Etusivu > Tilastot > Patentointi > 2008 > Kuvio 1. Suomessa haetut patentit IPC-lohkoittain vuonna 2008

Tämä tilasto on lakkautettu.

Tilastosta ei enää tuoteta uusia tietoja.

Tämä sivu on arkistoitu.

Kuvio 1. Suomessa haetut patentit IPC-lohkoittain vuonna 2008

Lähde: Patentointi 2008. Tilastokeskus

Lisätietoja: Ari Leppälahti (09) 1734 3237, tiede.teknologia@tilastokeskus.fi

Vastaava tilastojohtaja: Leena Storgårds

Päivitetty 3.12.2009

Viittausohje:

Suomen virallinen tilasto (SVT): Patentointi [verkkojulkaisu].
ISSN=1797-2051. 2008, Kuvio 1. Suomessa haetut patentit IPC-lohkoittain vuonna 2008 . Helsinki: Tilastokeskus [viitattu: 27.12.2024].
Saantitapa: https://www.stat.fi/til/pat/2008/pat_2008_2009-12-03_kuv_001_fi.html